サービス概要

超小型で超軽量のパッケージを実現する WL-CSPファウンドリサービス

超小型で超軽量のウエハレベル チップサイズパッケージ WCSP20

ウエハレベルチップサイズパッケージ (WL-CSP) はモバイル機器の小型化、軽量化に最適であり、さらに、Cu再配線技術・表面処理技術 (Cu・Ni・Au・SnAgめっき) により、LSIの高機能化・多機能化に貢献いたします。
また、お客様のご要求に応じたファウンドリモデルをご提供いたします。

Cu再配線加工、個片化、テスト、テープ＆リール梱包まで一貫対応いたします。
カスタム加工、部分加工等、ご対応いたしますのでご相談ください。

動画

ファウンドリ WL-CSPの加工受託サービスのご紹介

WL-CSPの加工受託サービスのご紹介
WL-CSPの加工で車の電子化をサポートします。

02:48  

  • 3つのソリューション

  • WL-CSP 構造と特徴

  • テクニカルロードマップ

  • WL-CSP新規技術

WL-CSP

スマホ/ウエアラブル機器向けの小型/薄型パッケージ

  • 1999年量産化以来の長年の実績とノウハウ
  • 樹脂封止構造の優れた単体信頼性、車載実績多数
  • 樹脂レス構造による薄型、狭端子ピッチの実現
  • 協力会社との提携による、急激な増産に対応できる体制
WL-CSPの加工で車の電子化をサポート

厚Cu再配線

Powerデバイス向けの特性向上/小型化/多機能化

  • 厚付けCu配線によるオン抵抗低減
  • Alパッド配置フリー化、IOパッド縮小によるチップサイズ縮小化
  • 層間絶縁膜の厚膜化による高耐圧対応
厚付けCu配線

応用技術

ラピスの技術を集結した次世代パッケージ

  • 再配線技術 / Cuピラー形成技術と実装技術の融合によるマルチチップ化、モジュール化の実現、Fan-Out化の実現
応用技術

WL-CSPの主なラインアップ

お客様のニーズに対応できるラインアップを取り揃えて提案いたします

  • 高信頼性 (車載・産機・医療) モールド樹脂封止
  • 薄型 (基板内蔵) 0.2mm
  • 狭ピッチ端子 0.15mm
  • 超狭ピッチ (Cuピラー) 0.10mm
  • 高密度 多層配線・MC-WLP
  • その他、裏面処理･低温絶縁膜･端子処理 (Sn-Ag / Au / Niメッキ) 等のカスタマイズが可能
  Mold Type Mold-less Type

構造
特長 チップ表面保護性 / 高い基板実装時低応力 ファインピッチ端子 / 最薄タイプのCSP Cu+Niの連続メッキによる工程削減 基板内蔵用の端子処理 超ファインピッチ端子 / 最薄タイプのCSP

量産
開始
時期

 1999年 2010年 2013年 2014年 2017年

薄型

(取付高さ)

 0.3mm以上 0.2mm以上 0.3mm以上 0.2mm以上 0.2mm以上
端子
ピッチ		 0.3mm以上
(印刷)
0.4mm以上
(ボール)		 0.15mm以上
(印刷)		 0.4mm以上
(ボール)		 0.35mm以上
(めっき)		 0.1 to 0.13mm
遮光性 有 無 無 無 無
デバイス
保護性		 ◎ ○ ○ ○ ○
基板
実装時
応力		 ○ △ △ △ ○
採用
アプリケ
ーション

車載部品

(トランスミッション)

スマートフォン

(電源系IC)

携帯ゲーム

(DCDC)

スマートフォン

(RF IC)

スマートフォン

(DCDC)

産業機器

(センサIC)

民生機器

(電源系IC)

スマートフォン

(RF IC)

ウエアラブル

(DCDC)

スマートフォン

(DCDC)

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WL-CSPとは

Wafer Level - Chip Size Package (WL-CSP)とは、従来使用していた、リードフレーム・金線を使用せ ず、ウエハ状態のまま銅配線、樹脂封止、端子形成を行う構造のパッケージで基本特性および信頼性は従来パッケージと同等のまま、軽量・小型化が可能になる最新型のパッケージのことです。

※µLAPIS™series

従来工法WL-CSP工法

WL-CSPのメリット

WL-CSPのメリット
  1. 小型・薄型化・軽量
  2. 低コスト (チップサイズが小さいと有利)
  3. 省資源 (エコ)
  4. 部材のデッドストックの抑制
  5. 生産工期の短縮
  6. 任意の配線が形成可能
WL-CSPのメリット、小型・薄型化・軽量
パッケージ形態とサイズ比較
wl-csp

WL-CSPプロセス

絶縁膜加工、再配線加工、Si研磨、テスト、ダイシング、T&Rまで一貫対応お客様のコストを削減いたします。

WL-CSPプロセス

テクニカルロードマップ

WL-CSPテクニカルロードマップ

大電流対応Cu再配線技術

厚付け再配線技術 + 表面処理技術

特長
  • ALパッド配置フリー化及びIOパッド面積縮小化
  • 厚付け (13 to 20µm) Cu配線によるオン抵抗の低減
  • 接続ワイヤ別の表面処理の最適化
アプリケーション
  • モータドライバー / LED / コイル / オペアンプ等
厚Cu配線仕様 (標準)
  • Cu/Ni/Au厚み : 13µm / 3µm / 0.5µm
  • L/S : 30µm/30µm
厚付け再配線技術、表面処理技術

加工例

加工例1 加工例2

多機能・高耐圧向けCu再配線技術

Cu再配線 + 端子処理技術 (Au / Ni / Sn-Ag メッキ端子)

特長
  • Cu多層配線による多機能・高機能化層の実現
  • Cu配線によるオン抵抗の抑制
  • 層間絶縁膜の厚膜化 (高耐圧向け : 600V程度までの実績有り)
  • ワイヤーボンド、フリップチップボンドが可能なメッキ処理や平坦化 (フィリングメッキ) による多機能・小型化の実現
アプリケーション
  • パワーデバイス/センサー & コントロールデバイス/ミリ波 等
多機能・高耐圧向けCu再配線技術

加工例

加工例1 加工例2 加工例3 加工例4

次世代パッケージ : マルチチップWLP

ラピスセミコンダクタの技術を集結した次世代パッケージ

再配線技術 / Cuポスト形成技術と実装技術の融合により
マルチチップ化、モジュール化、Fan Out化を実現
特長
  • 高Cuポスト、Chip on Wafer技術による小型PKGの実現
  • 接続用部材 (ワイヤ、基板等) の削除による配線抵抗の低減
  • モールド樹脂封止による信頼性確保

加工例

加工例1 加工例2